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无功老化测试设备
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1.本设备主要由高压供电单元，治具单元，电测单元，控制单元，脉冲电流源以及配套测试仪等组成，采用公司自主研发的系统测试软件。 2.主要用于功率半导体(Si/SiC)封装测试、成品老化、动静态检测的测试设备，适用于新能源汽车、光伏、军工等高要求高可靠性功率半导体应用场景； 3.通过对大电流和严酷的实际工况，模拟实况当中的各种应用，对模块存在的缺陷进行筛选，可以有效提高产品的合格率，减少失效率； 4.循环老化，固定电流老化等，模拟堵转电流，也可以自定义老化曲线； 5.软件实时监控，测试步骤及保护变量可在线设置，操作简单便利； 6.具备强大的数据记录分析能力，方便后期的数据处理。
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